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白光干涉测厚仪的技术特征表现

发布日期: 2019-08-26
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白光干涉测厚仪可快色准确的测量粗糙和镜面反射工件的表面轮廓。可用于测量平整度、波纹度、扭曲、台阶高度和多种其他表面特性。
有全功能设置,因而可以用在许多不同的情况使用。机动结合自动拼接程序因而能测量大面积。主要应用包括在质量管理和过程控制的使用。这款白光干涉测厚仪通过其快速、准确的检测,提供较优条件产生有意义的尺度来确保产品和流程的质量。
 
白光干涉测厚仪的技术特征:
1.严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。
2.测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。
3.支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。
4.实时显示测量结果的较大值、较小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。
5.配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。
6.系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。
7.系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。
8.标准的RS232接口,便于系统的外部连接和数据传输。
9.支持Lystem™实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告。
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